[发明专利]一种珍珠珠层厚度的无损检测方法

摘要

本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括：利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像；依据像素点的灰度值，判断一个像素点是否为边界点，从而从初始图像中识别出待测物体图像的所有的边界点；对于标准球体，利用识别出的边界点拟合成一个圆，并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0；对于待测珍珠，利用识别出的边界点拟合成三个同心圆，其中，以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2，以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1；待测珍珠的半径为r1=μR1，珠核的半径为r2=μR2，则珠层厚度为r=r1-r2，其中，比例系数μ=r0／R0，r0为标准球体的半径。本发明实现了珠层厚度的计算，测量结果更为准确。

主权项

一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像，其中，所述两个待测物体包括标准球体和待测珍珠，其中，待测珍珠包括珠核以及环状的珠层，所述珠核位于所述珠层的中心；步骤二、依次从两个初始图像中识别出两个待测物体图像的边界点，具体过程为：(1)所述初始图像由多个规则排列的像素点构成，依据各像素点的灰度值对各像素点进行区分，如一个像素点的灰度值高于灰度阈值，则该像素点为构成待测物体图像的像素点，如一个像素点的灰度值低于灰度阈值，则该像素点为构成背景的像素点，(2)检测所有的像素点，在相邻两个像素点中，第一个像素点为构成待测物体图像的像素点，第二个像素点为构成背景的像素点时，以第一个像素点为待测物体图像的边界点，从而识别出待测物体图像的所有的边界点；步骤三、以标准球体为待测物体时，利用步骤二识别出的边界点拟合成一个圆，并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0；步骤四、以待测珍珠为待测物体时，利用步骤二识别出的边界点拟合成三个同心圆，其中，以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2，以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1；步骤五、所述待测珍珠的半径为r1=μR1，所述珠核的半径为r2=μR2，则所述珠层厚度为r=r1‑r2，其中，比例系数μ=r0／R0，r0为所述标准球体的半径。