[发明专利]芯片封装结构及制程在审

专利信息
申请号: 201310481670.5 申请日: 2013-10-15
公开(公告)号: CN104576552A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 林登炎 申请(专利权)人: 林登炎
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L21/56
代理公司: 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 代理人: 刘俊
地址: 中国台湾新北市林*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭示一种芯片封装结构及制程,该结构包括芯片及奈米沈积层,芯片具有电气线路、感光区以及多个电气连接垫,且感光区及电气连接垫是配置于芯片的上表面,而奈米沈积层是覆盖感光区的表面,并曝露出电气连接垫。感光区具有感光功能,电气连接垫是连接电气线路,提供连接外部电路或电气元件。奈米沈积层具有电气绝缘性以及透光性,提供电气绝缘及隔绝保护作用。该制程包括清洗芯片;形成奈米沈积层;以及切刻晶圆以分离芯片。本发明直接利用奈米沈积层包覆方式取代注模,可简化处理工序、降低处理成本、方便生产,进一步缩小封装尺寸。
搜索关键词: 芯片 封装 结构
【主权项】:
一种芯片封装结构,其特征在于,包括:一芯片,为一光学感测芯片,具有一电气线路、一感光区以及多个电气连接垫,且该感光区及该电气连接垫是配置于该芯片的一上表面,其中该感光区具有感光功能,而该电气连接垫用以连接外部电路或电气元件;以及一奈米沈积层,具有电气绝缘性以及透光性,覆盖该感光区,并曝露出该电气连接垫,且该奈米沈积层是由透光性的疏水性塑料材料构成。
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