[发明专利]双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪及实现方法有效
| 申请号： | 201310481926.2 | 申请日： | 2013-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN103557942A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 袁琨;陈刚;王坚 | 申请（专利权）人： | 杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46;G01J3/10 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人： | 刘文求 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪及实现方法，通过双光源主动照明的方式实现了SCI/SCE测量测量条件切换，替代了光阱的设计，并对两种测试条件设计了相应的定标算法。实验结果表明，该结构在SCI和SCE条件下的测试结果明显优于现有的技术，更适用于兼容SCI和SCE测试条件的颜色测量仪器，并具有显著的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 兼容 sci sce 测试 条件 测色仪 实现 方法 | ||
【主权项】：
一种双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪，用于对样品进行颜色测量；所述测色仪包括：分光计、光阱和积分球；其特征在于，还包括： 第一光源； 第二光源； 设置在积分球上的四个开孔：第一光源入射狭缝，第二光源入射狭缝，测试孔径和分光计狭缝； 一平面镜； 第一光源发出的光从第一光源入射狭缝入射到积分球内部，投射到积分球内壁上，在积分球内壁进行多次反射后，以漫入射形式照射到样品表面；第二光源发出的光从第二光源入射狭缝入射，照射到一平面镜上，通过平面镜反射将入射光投射到光阱位置的第一区域，第一区域发出的光只有经过被测物体材料表面的镜面反射后才能入射至分光计中；第一区域位置为以样品测试孔以8°观察角度向积分球内壁的投影，发散角方向角为+2°至‑2°。
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