[发明专利]单分子检测用扫描分析器和使用方法有效
| 申请号： | 201310484661.1 | 申请日： | 2008-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN103543094B | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | 理查德.A.利文斯顿 | 申请（专利权）人： | 神谷来克斯公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 刘蕾 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于检测单分子或分子复合物的分析器，所述分析器使用迁移穿过样品的电磁辐射以检测分子的存在或不存在而不会在样品之间夹带。 | ||
| 搜索关键词： | 分子 检测 扫描 分析器 使用方法 | ||
【主权项】：
一种分析器，包括：(a)电磁辐射源；(b)用于将来自所述电磁辐射源的电磁辐射导向包含处理样品的样品容器中的询问空间的系统；(c)用于在处理样品被包含在所述样品容器中时使所述询问空间移动通过处理样品的至少一部分的迁移系统；(d)用于检测从所述询问空间发射的电磁辐射的检测器，和(e)与所述检测器可操作地相连的处理器，其中所述处理器通过如下方式在多个时段的每个中测定对应于所述询问空间中分析物的标记的存在：测定没有标记时对应于所述询问空间中背景光子水平的阈值光子水平，和确认具有大于所述阈值光子水平的光子值的时段；和其中所述处理器通过如下方式测定处理样品中分析物的存在或量：将所述具有大于所述阈值光子水平的光子值的时段的数目与处理样品中分析物的存在或量相关联。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于神谷来克斯公司，未经神谷来克斯公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310484661.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
