[发明专利]金属离子浓度的优化谱线数据分析方法无效
| 申请号： | 201310485923.6 | 申请日： | 2013-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN103543194A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 李国志;夏洪海;彭建波;吴升海;方军 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/48 | 分类号： | G01N27/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种极优谱线数据分析方法,包括以下步骤：Step1.数据采集；Step2.数据处理，其包括去噪处理、校正处理、得到校正基线、得出校正峰值、得到校正峰面积；step3计算待测样品金属离子浓度；本发明通过对使用十五点去噪处理、寻找下凸包校正处理，获取校正基线、校正峰值、校正峰面积，可以使得基线、峰型更加规则易于计算，同时也可以使得计算结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 离子 浓度 优化 数据 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种金属离子浓度的优化谱线数据分析方法，其特征在于，包括以下步骤：Step1.数据采集设置极谱仪的扫描条件，包括富集时间、扫描速率、扫描电压范围、扫描电压步长，通过所述极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线；Step2.数据处理所述数据处理步骤包括，step2.1去噪处理：对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；step 2.2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线；step 2.3得到校正基线根据step2.2中的计算成果，计算校正基线；step 2.4得出校正峰值在所述校正基线下寻找并计算校正峰值；step 2.5得到校正峰面积在所述校正基线下计算校正峰面积； Step3. 计算待测样品金属离子浓度。
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