[发明专利]一种制备拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201310487902.8 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN103526297A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 张敏;赵勇;吕莉;魏占涛;羊新胜 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: C30B29/46 分类号: C30B29/46;C30B23/00;C30B33/02
代理公司: 成都博通专利事务所 51208 代理人: 陈树明
地址: 610031 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种制备拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜的方法,其步骤是:a、高纯铋粉(Bi)和高纯硒粉(Se)按2:3.2的摩尔比,在氩气手套箱中称量,研磨,压片;再封入真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下的烧结,然后淬火,即得到Bi2Se3单晶块材;b、将a步的Bi2Se3单晶块材重新放入氩气手套箱中研磨成粉末;c、将b步制得的粉末放入蒸发镀膜机中,将粉末均匀蒸发到基片上,形成薄膜后取出;d、将c步所得薄膜再次封入气压小于1×10-2Pa的真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下的后退火处理,然后淬火,即在基片上得到Bi2Se3薄膜。该方法制备的薄膜平整致密,织构良好,具有典型的层状结构。
搜索关键词: 一种 制备 拓扑 绝缘体 bi sub se 薄膜 方法
【主权项】:
一种制备拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜的方法,其步骤是: a、单晶块材的制备:高纯铋粉(Bi)和高纯硒粉(Se)按2:3.2的摩尔比,在氩气手套箱中称量,研磨,压片;再封入气压小于1×10‑2Pa的真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下的烧结,然后淬火,即得到Bi2Se3单晶块材; b、前驱粉末制备:将a步的Bi2Se3单晶块材重新放入氩气手套箱中研磨成粉末; c、薄膜的蒸镀:将b步制得的粉末放入蒸发镀膜机中,将粉末均匀蒸发到基片上,形成薄膜后取出; d、后退火处理:将c步所得薄膜再次封入气压小于1×10‑2Pa的真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下的后退火处理,然后淬火,即在基片上得到Bi2Se3薄膜。 
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