[发明专利]一种激光粒度仪光学系统设计方法在审

专利信息
申请号: 201310489158.5 申请日: 2013-10-18
公开(公告)号: CN104568682A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 于双双;杜吉;史宣 申请(专利权)人: 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300308 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于激光粒度仪光学系统设计技术领域,具体涉及一种激光粒度仪光学系统设计方法。本发明方法设计的激光粒度仪光学系统,包括光阑、透镜和环形光电探测器,三者沿光路方向依次前后排列,所述光阑在光学系统设计时采用多位置变焦设计。本发明要解决的技术问题为现有技术中的激光粒度仪光学系统测量精度低。本发明的方法,光学系统设计时光阑位置在样品池范围内采用多位置变焦,像差校正时综合考虑了不同位置散射的光在接受器件的位置,有效提高了被粒子散射的相同方向平行光束经过透镜后的位置精度。
搜索关键词: 一种 激光 粒度 光学系统 设计 方法
【主权项】:
一种激光粒度仪光学系统设计方法,其特征在于:激光粒度仪光学系统包括光阑、透镜和环形光电探测器,三者沿光路方向依次前后排列,所述光阑位置在光学设计时采用多位置变焦设计。
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