[发明专利]一种测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法无效
| 申请号： | 201310489357.6 | 申请日： | 2013-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN103499830A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 侯文生;吴小鹰;夏楠 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 赵荣之 |
| 地址： | 400044 重*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种较为精确的测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法。首先在焦点f前方某处放一块由钨、钨合金或铂等高密度材料制作有较强吸收射线能力的平板，其上正对焦点处钻有一个直径为d的微孔（直径可适当大于焦点f尺寸）；在距离微孔为g处放一探测器（或胶片）,以获取焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D；然后保持焦点f与探测器（或胶片）的距离不变，将平板向探测器（或胶片）方向移动一小段距离，测量微孔到探测器（或胶片）的距离g′和焦点f像的尺寸D′；最后根据上述所获取的数据计算出焦点f的大小。本发明适用于有效焦点尺寸小于50μm、电压小于225kV的微焦点X射线源的有效焦点尺寸测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 焦点 射线 有效 尺寸 方法 | ||
【主权项】：
一种测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：在焦点f前方某处放一块能吸收X射线的平板，在其正对焦点处钻一直径为d的微孔；步骤2：在离平板距离为g处放一探测器或胶片；步骤3：获取焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D；步骤4：保持焦点f与探测器或胶片的距离不变，将平板移动一小段距离；步骤5：测量移动后的平板到探测器或胶片的距离g′；步骤6：测量焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D′；步骤7：通过步骤1到步骤6中所获取的数据计算焦点f的大小。
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