[发明专利]一种光刻胶填充式金属互连结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310491613.5 申请日: 2013-10-18
公开(公告)号: CN103515353A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 黄君;毛智彪;张瑜 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 陆花
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种光刻胶填充式金属互连结构及其制造方法,所述光刻胶填充式金属互连结构利用光刻胶属于低介电常数介质且k值小于2.2而达到超低介电常数的级别的特点,可以降低制造成本和器件k值;本发明提供的光刻胶填充式金属互连结构的制造方法,采用普通氧化层代替现有技术中的常规超低介电常数介质来形成第二金属互连层,既大大降低了对通孔刻蚀、湿法刻蚀以及通孔金属填充和化学研磨等工艺的要求,又避免了由于低介电常数介质工艺带来的问题,提高金属互连结构的电气性能和可靠性。
搜索关键词: 一种 光刻 填充 金属 互连 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种光刻胶填充式金属互连结构,其特征在于,包括:第一金属互连层及其上方的第二金属互连层,所述第一金属互连层包括第一光刻胶层、贯穿第一光刻胶层上下表面的第一通孔以及填充于第一通孔中的第一互连金属;所述第二金属互连层包括位于第一金属互连层上表面的隔离层,位于所述隔离层上表面的第二光刻胶层、从第二光刻胶层上表面贯穿至隔离层下表面的第二通孔以及填充于所述第二通孔中的第二互连金属,所述第二通孔中的第二互连金属下表面与第一通孔中的第一互连金属上表面直接接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310491613.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top