[发明专利]晶片级芯片规模封装(WLCSP)的保护有效
申请号: | 201310491772.5 | 申请日: | 2013-10-18 |
公开(公告)号: | CN103779241A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 莱奥那德思·安托尼思·伊丽沙白·范吉莫特;哈特莫特·布宁;托尼·坎姆普里思;萨沙·默勒;克里斯蒂安·延斯 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 根据示例实施例,提供了一种用于装配经晶片级芯片规模处理(WLCSP)的晶片的方法。晶片具有前侧表面和背侧表面以及在前侧表面上具有电接触的多个器件管芯。该方法包括:将晶片的背侧表面背侧研磨至一定厚度。将一定厚度的保护层施加至晶片的背侧表面上。将晶片安装到切割箔上。沿多个器件管芯的切割线来切割晶片,该切割利用第一切口的刀片进行且切割至背侧研磨晶片厚度的深度。再次沿多个器件管芯的切割线切割晶片,该切割利用第二切口的刀片进行,第二切口比第一切口窄,且切割至保护层厚度的深度。将多个器件管芯分离为单独的器件管芯。每一个单独的器件管芯在背侧具有保护层,保护层具有相对于单独器件管芯的竖直边缘的偏距。 | ||
搜索关键词: | 晶片 芯片 规模 封装 wlcsp 保护 | ||
【主权项】:
一种用于装配经晶片级芯片规模处理WLCSP的晶片的方法,所述晶片具有前侧表面和背侧表面,多个器件管芯在前侧表面上具有电接触,所述方法包括:将晶片的背侧表面背侧研磨至一定厚度;将一定厚度的保护层施加至晶片的背侧表面上;将WLCSP晶片在具有保护层的背侧表面上安装到切割箔上;沿前侧表面上所述多个器件管芯的切割线来切割WLCSP晶片,该切割利用第一切口的刀片进行,且切割至背侧研磨晶片厚度的第一深度;再次沿所述多个器件管芯的切割线切割WLCSP晶片,该切割利用第二切口的刀片进行,所述第二切口比第一切口窄,并且切割至保护层厚度的深度;将所述多个器件管芯分离为单独的器件管芯;其中每一个单独的器件管芯在背侧具有保护层,所述保护层具有相对于单独器件管芯的竖直边缘的偏距。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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