[发明专利]自动分析装置在审
申请号: | 201310492072.8 | 申请日: | 2013-10-18 |
公开(公告)号: | CN103777028A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 杂贺光一 | 申请(专利权)人: | 日本电子株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 徐谦;董巍 |
地址: | 日本东京都昭*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种可以用简单的结构提高处理能力的自动分析装置。在自动分析装置100,第二运送部40具有对位于第一位置P1的第二试件收容器4进行运送的第一运送线42、把在第一运送线42运送的第二试件收容器4运送到位置P10、P12、P14、P16的多个第二运送线44a、44b、44c、44d和用于把被运送到位置P10、P12、P14、P16的第二试件收容器4送回到第一位置P1的第三运送线46,控制部72进行使第一试件收容器2的识别信息与第二试件收容器4的识别信息相关联的第一处理,和基于第二试件收容器4的识别信息,把握第二运送部40运送着的多个第二试件收容器4的各个位置,决定对试件进行分析的分析部60a、60b、60c、60d的第二处理。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,包含第一运送部,运送收容试件的第一试件收容器;第一识别部,用于取得所述第一试件收容器的识别信息;试件交付部,从所述第一试件收容器采集所述试件,并移送给第二试件收容器;第二运送部,运送多个所述第二试件收容器;第二识别部,用于取得所述第二试件收容器的识别信息;多个分析部,采集在所述第二试件收容器中收容的所述试件,并对所采集的所述试件进行分析;和控制部,控制所述第二运送部,所述试件交付部在第一位置向所述第二试件收容器移送所述试件,所述第二运送部,具有第一运送线,运送位于所述第一位置的所述第二试件收容器;多个第二运送线,把在所述第一运送线所运送的所述第二试件收容器运送到所述分析部采集所述试件的位置;和第三运送线,用于把被运送到所述分析部采集所述试件的位置的所述第二试件收容器送回到所述第一位置,所述控制部,进行第一处理,使所述第一试件收容器的识别信息与所述第二试件收容器的识别信息相关联;和第二处理,基于所述第二试件收容器的识别信息,把握所述第二运送部运送着的多个所述第二试件收容器的各个位置,决定对所述试件进行分析的所述分析部。
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