[发明专利]自动分析装置在审

专利信息
申请号: 201310492072.8 申请日: 2013-10-18
公开(公告)号: CN103777028A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 杂贺光一 申请(专利权)人: 日本电子株式会社
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 徐谦;董巍
地址: 日本东京都昭*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种可以用简单的结构提高处理能力的自动分析装置。在自动分析装置100,第二运送部40具有对位于第一位置P1的第二试件收容器4进行运送的第一运送线42、把在第一运送线42运送的第二试件收容器4运送到位置P10、P12、P14、P16的多个第二运送线44a、44b、44c、44d和用于把被运送到位置P10、P12、P14、P16的第二试件收容器4送回到第一位置P1的第三运送线46,控制部72进行使第一试件收容器2的识别信息与第二试件收容器4的识别信息相关联的第一处理,和基于第二试件收容器4的识别信息,把握第二运送部40运送着的多个第二试件收容器4的各个位置,决定对试件进行分析的分析部60a、60b、60c、60d的第二处理。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,包含第一运送部,运送收容试件的第一试件收容器;第一识别部,用于取得所述第一试件收容器的识别信息;试件交付部,从所述第一试件收容器采集所述试件,并移送给第二试件收容器;第二运送部,运送多个所述第二试件收容器;第二识别部,用于取得所述第二试件收容器的识别信息;多个分析部,采集在所述第二试件收容器中收容的所述试件,并对所采集的所述试件进行分析;和控制部,控制所述第二运送部,所述试件交付部在第一位置向所述第二试件收容器移送所述试件,所述第二运送部,具有第一运送线,运送位于所述第一位置的所述第二试件收容器;多个第二运送线,把在所述第一运送线所运送的所述第二试件收容器运送到所述分析部采集所述试件的位置;和第三运送线,用于把被运送到所述分析部采集所述试件的位置的所述第二试件收容器送回到所述第一位置,所述控制部,进行第一处理,使所述第一试件收容器的识别信息与所述第二试件收容器的识别信息相关联;和第二处理,基于所述第二试件收容器的识别信息,把握所述第二运送部运送着的多个所述第二试件收容器的各个位置,决定对所述试件进行分析的所述分析部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电子株式会社,未经日本电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310492072.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top