[发明专利]一种磁隧道结、其制造方法及含磁隧道结的存储单元有效
申请号: | 201310492822.1 | 申请日: | 2013-10-18 |
公开(公告)号: | CN104576919A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 张宏;王灵玲;张永兴 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L43/08 | 分类号: | H01L43/08;H01L43/12;G11C11/16 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种纳米环形磁隧道结,其特征在于,所述纳米环形磁隧道结至少包括:位于中间的隧穿氧化层,所述隧穿氧化层材料为金属氧化物;上磁性层,设置于所述隧穿氧化层的上部;下磁性层,设置于所述隧穿氧化层的下部,其中,所述上磁性层、所述隧穿氧化层和所述下磁性层的外围形成为一柱体;椭圆柱形贯穿孔,竖向贯穿所述上磁性层、所述隧穿氧化层和所述下磁性层。本发明利用了磁隧道结的形状各向异性特征,制造出内椭圆外圆的环形磁隧道结,增加了磁隧道结的热稳定性以及加快了反磁化核形成和磁反转,并且降低了驱动电流密度和临界电流值及功耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 隧道 制造 方法 存储 单元 | ||
【主权项】:
一种纳米环形磁隧道结,其特征在于,所述纳米环形磁隧道结至少包括:隧穿氧化层(603),所述隧穿氧化层(603)材料为金属氧化物;上磁性层(604),设置于所述隧穿氧化层(603)的上部;下磁性层(602),设置于所述隧穿氧化层(603)的下部,其中,所述上磁性层(604)、所述隧穿氧化层(603)和所述下磁性层(602)的外围形成为柱体;椭圆柱形贯穿孔(60),竖向贯穿所述上磁性层(604)、所述隧穿氧化层(603)和所述下磁性层(602)。
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