[发明专利]用于气敏材料的多孔硅/氧化钨纳米线复合结构的制备方法无效
申请号: | 201310498459.4 | 申请日: | 2013-10-21 |
公开(公告)号: | CN103630572A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 胡明;马双云;崔珍珍;李明达;曾鹏;闫文君 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 发明公开了一种用于气敏材料的多孔硅/氧化钨纳米线复合结构的制备方法,首先采用p型单晶硅作为基底,利用双槽电化学的方法在基底表面制备多孔硅层;再以金属钨作为耙材,利用磁控溅射的方法在多孔硅表面沉积金属钨薄膜;最后,在水平管式炉中,以氩气作为工作气体,氧气作为反应气体,600~750℃条件下,制得多孔硅/氧化钨纳米线复合结构的气敏材料。本发明降低了制备氧化钨纳米线生长温度,显著提高了复合结构气敏材料的比表面积,在150℃的条件下对2ppm NO2的灵敏度为4.76,具有制备工艺简单,易于控制,成本低廉以及对NO2高灵敏度探测等优点。 | ||
搜索关键词: | 用于 材料 多孔 氧化钨 纳米 复合 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于气敏材料的多孔硅/氧化钨纳米线复合结构的制备方法,具有如下步骤: (1)清洗硅基片衬底 将电阻率为10~15Ω·cm的单面抛光的p型单晶硅基片,先于浓硫酸与过氧化氢混合溶液中浸泡30~50分钟,再经过氢氟酸水溶液浸泡20~40分钟、丙酮溶剂超声清洗5~15分钟、无水乙醇超声清洗5~15分钟、去离子水中超声清洗5~15分钟,以除去表面油污、有机物杂质以及表面氧化层; (2)制备多孔硅基底 采用双槽电化学腐蚀法在步骤(1)清洗过的硅基片抛光表面制备多孔硅层,所用腐蚀电解液由质量分数40%的氢氟酸与质量分数40%的二甲基甲酰胺按照体积比为1:2组成,不添加表面活性剂和附加光照,施加的腐蚀电流密度为50~120mA/cm2,腐蚀时间为5~20min; (3)制备多孔硅与钨薄膜复合结构材料 将步骤(2)制得的多孔硅基底置于超高真空对靶磁控溅射设备的真空室。采用金属钨作为靶材,以氩气作为工作气体,氩气气体流量为30~50sccm,溅射工作压强为2.0Pa,溅射功率80~100W,溅射时间15~30min,基片温度为室温,在多孔硅表面沉积金属钨薄膜,制备出钨薄膜与多孔硅复合结构材料; (4)制备多孔硅与氧化钨纳米线复合结构气敏材料 将步骤(3)制备的钨薄膜与多孔硅复合结构材料置于水平管式炉中,利用热退火的方法,以氩气作为工作气体,氧气作为反应气体,气体流量分别控制为30~40sccm和0.05~0.1sccm,退火温度为600~750度,保温时间为50~80min,本体真空度为1~5Pa,工作压强为120~200Pa。
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