[发明专利]用于化学发光检测的微流控芯片成像仪器和系统有效
| 申请号： | 201310503116.2 | 申请日： | 2013-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN103674934A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 蒋兴宇;沈海滢;张伟 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01N21/76 | 分类号： | G01N21/76 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于化学发光检测的微流控芯片成像仪器和系统，该仪器包括仪器框架及安装在所述仪器框架上的光路固定模块、芯片支持结构、反光镜和光学透镜组及检测模块，所述光路固定模块用于固定光学透镜组的位置及光路的调整和固定，所述芯片支持结构用于支持及移动芯片以调整芯片位置，所述反光镜和光学透镜组用于将芯片上的化学发光信号收集并聚焦到所述检测模块；所述检测模块用于接收化学发光信号并转变为模拟电信号，再将模拟电信号转变为数字电信号。该仪器连接计算机构成系统。该仪器可以对微流控芯片上的化学发光信号进行有效收集和分析，该仪器体积小，是一种新型的便携式微流控芯片分析仪。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 化学 发光 检测 微流控 芯片 成像 仪器 系统 | ||
【主权项】：
一种用于化学发光检测的微流控芯片成像仪器，其特征在于，包括仪器框架及安装在所述仪器框架上的光路固定模块、芯片支持结构、反光镜和光学透镜组及检测模块，所述光路固定模块用于固定光学透镜组的位置及光路的调整和固定，所述芯片支持结构用于支持及移动芯片以调整芯片位置，所述反光镜和光学透镜组用于将芯片上的化学发光信号收集并聚焦到所述检测模块；所述检测模块用于接收化学发光信号并转变为模拟电信号，再将模拟电信号转变为数字电信号。
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