[发明专利]一种LED外延结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310504963.0 申请日: 2013-10-23
公开(公告)号: CN103531680A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 李勇;崔德国 申请(专利权)人: 苏州矩阵光电有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 彭秀丽
地址: 215614 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明所述的LED外延结构,N型GaN层采用周期性的梯度掺杂结构,交替设置的掺杂Si的GaN和不掺杂的GaN层可以在不掺杂的GaN层聚集电子,形成高密度的二维电子气,从而有效增加载流子浓度和迁移率;更重要的是,设置在多量子阱层上的U型的超晶格层与N型GaN层之间形成多结电容结构,能有效增强载流子的横向扩展能力,扩大流入多量子阱层的电流分布面积,有效降低LED的驱动电压。本发明所述的LED外延结构的制备方法,N型GaN层中的掺杂结构简单、层数少,超晶格层更采用不掺杂结构,工艺简单,制作成本低。
搜索关键词: 一种 led 外延 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种LED外延结构,包括在依次叠加设置的衬底、缓冲层、U型GaN层、N型GaN层、多量子阱层、P型GaN层,其特征在于,N型GaN层包括第一N型层、第二N型层和第三N型层,各层均进一步包括交替设置的掺杂Si的GaN层和不掺杂的GaN层;所述第一N型层厚度为900~1000nm,所述掺杂Si的GaN层和所述不掺杂的GaN层的厚度比为2:1,Si的掺杂浓度为7~8×1018/cm3,交替周期为15~20;所述第二N型层厚度为1300~1400nm,所述掺杂Si的GaN层和所述不掺杂的GaN层的厚度比为3:1,Si的掺杂浓度为9~10×1018/cm3,交替周期为20~30;所述第三N型层厚度为200~300nm,所述掺杂Si的GaN层和所述不掺杂的GaN层的厚度比为1:1,Si的掺杂浓度为5~6×1018/cm3,交替周期为10~15;所述第一N型层靠近所述缓冲层设置;所述多量子阱层与所述P型GaN层之间还直接设置有U型超晶格层;所述P型GaN层包括依次设置的Mg掺杂GaN层、Mg掺杂AlInGaN层、Mg掺杂GaN层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州矩阵光电有限公司,未经苏州矩阵光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310504963.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top