[发明专利]一种MEMS圆片双面步进光刻方法无效

专利信息
申请号: 201310505575.4 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN103558740A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 王文婧;郭群英;吕东锋;徐栋;黄斌;陈璞;陈博;王鹏;何凯旋;刘磊;庄须叶 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233042 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种MEMS圆片双面步进光刻方法,其特征在于包括以下步骤:a.晶圆片在投影步进光刻机进行正面光刻,制作出对准标记(a、a)以及器件结构;b.在双面光刻机中,将晶圆片背面制作出相应的对准标记(b,b);c.在投影步进光刻机中,对准晶圆片背面的对准标记(b,b),在晶圆片背面光刻制作对应的器件结构。本发明是结合双面光刻技术,在投影步进光刻工艺加工中实现双面结构制作,采用双面光刻机在背面制作一个对准标记,圆片正反两面使用投影步进光刻机进行较高精度套刻工艺制作。
搜索关键词: 一种 mems 双面 步进 光刻 方法
【主权项】:
一种MEMS圆片双面步进光刻方法,其特征在于包括以下步骤:a.晶圆片在投影步进光刻机进行正面光刻,制作出对准标记(a、a)以及器件结构;b.在双面光刻机中,在晶圆片背面制作出相应的对准标记(b,b);c.在投影步进光刻机中,对准晶圆片背面的对准标记(b,b),在晶圆片背面光刻出相应的器件结构。
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