[发明专利]基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪及其方法

摘要

本发明公开了基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪及其方法，其设计了一种新型的分光测色仪，所述分光测色仪包括：光阱、光源、积分球、第一拨片、第一拨片控制装置、光谱仪、第二拨片、第二拨片控制装置和用于进行数据处理的处理装置；通过第一拨片控制装置控制第一拨片关闭或打开积分球上部开孔，实现了SCI和SCE两种测量条件，并通过第二拨片控制装置控制第二拨片打开或关闭积分球下部开孔，从而用标准白板的测试数据对不同被测样品的测量数据进行校正，消除了由于光源强度波动对测量带来的影响，增强了测量重复性;通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量获得样品表面的光泽数据，根据预先建立的样品表面光泽数据对SCI测量数据进行修正的矫正模型，对SCI测量数据进行修正，有效减小了误差。

主权项

一种基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪，用于测量样品的颜色，其特征在于，所述分光测色仪包括：光阱、光源、积分球、第一拨片、第一拨片控制装置、光谱仪、第二拨片、第二拨片控制装置和用于进行数据处理的处理装置；所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述光源发出的光线通过所述入射口进入积分球；所述样品设置在积分球的下部开孔处；所述光谱仪设置在积分球上垂直于样品法线的‑8°的位置处；所述光阱设置在积分球上垂直于样品法线的+8°的位置处，且在所述积分球上垂直于样品法线的+8°的位置处设置有上部开孔；所述第一拨片设置在光阱处，且第一拨片上涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；所述第一拨片控制装置连接第一拨片；所述第二拨片设置在积分球的下部开孔处，且在第二拨片上设置有标准白板；所述第二拨片控制装置连接第二拨片；所述光谱仪连接所述处理装置；所述第一拨片控制装置控制所述第一拨片关闭积分球上部开孔，得到无光阱的SCI测量条件；然后所述第二拨片控制装置控制所述第二拨片关闭积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述标准白板上；所述光谱仪接收经标准白板表面反射过来的反射光；所述第二拨片控制装置再控制所述第二拨片打开积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述样品上；所述光谱仪接收经样品表面反射过来的反射光；所述处理装置对光谱仪两次测量的信号进行数据处理而获得相应的第一测量结果；所述拨片控制装置控制所述拨片打开积分球上部开孔，得到有光阱的SCE测量条件；然后所述第二拨片控制装置控制所述第二拨片关闭积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述标准白板上；所述光谱仪接收经标准白板表面反射过来的反射光；所述第二拨片控制装置再 控制所述第二拨片打开积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述样品上；所述光谱仪接收经样品表面反射过来的反射光；所述处理装置对光谱仪两次测量的信号进行数据处理而获得相应的第二测量结果；所述处理装置根据所述第一测量结果和第二测量结果计算样品表面的光泽并对第一测量结果进行修正。