[发明专利]面向AES算法电路的差分功耗攻击测试方法在审
申请号: | 201310513475.6 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN103530474A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 单伟伟;孙华芳;王学香 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人: | 王斌 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种面向AES算法电路的差分功耗攻击测试方法,AES算法是一种广泛应用的分组对称密码算法,本发明对AES密码算法电路在设计阶段进行功耗攻击测试时,对功耗样本的获取及处理步骤如下:(1)功能仿真及功耗样本获取(2)功耗样本预处理(3)假设功耗样本获取(4)相关系数的计算和攻击结果分析。本发明仅采样有变化的功耗点,节省大量功耗样本数据,大幅降低功耗攻击计算量,具有评估效率高、速度快的优点,更重要的是,能够在电路设计阶段进行功耗攻击测试,从而提前评估密码电路的抗攻击能力,降低AES电路的流片风险。 | ||
搜索关键词: | 面向 aes 算法 电路 功耗 攻击 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种面向AES(Advanced Encryption Standard,高级加密标准)算法电路的差分功耗攻击测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:功能仿真和功耗样本获取,在电路设计仿真阶段,在电路功能仿真验证的基础上,采用Prime Time PX功耗仿真工具对仿真结果进行功耗信息提取,将得到的一系列瞬态功耗值作为采样的功耗样本信息;步骤二:功耗样本预处理,截取加解密时段的功耗样本构成功耗轨迹,并进行对齐处理,使功耗轨迹对齐于同一操作时刻;步骤三:假设功耗样本获取,基于汉明重量模型,选取合适的攻击点,使用随机明文和猜测密钥,推导计算假设功耗值矩阵;步骤四:相关系数的计算和分析,将预处理后的功耗样本与假设功耗样本进行相关性计算,获取相关系数矩阵,由相关系数矩阵做出相关系数曲线图,在攻击点处出现明显峰值的则攻击成功,峰值对应相关性曲线可推测出正确密钥;若在攻击点处未出现明显峰值,则攻击失败。
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