[发明专利]一种缺陷处理方法及缺陷处理装置有效
| 申请号： | 201310516392.2 | 申请日： | 2013-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN103559127B | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 王雅文;宫云战;金大海;黄俊飞;王前 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F17/30 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 张振伟,王黎延 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷处理方法，包括通过SDDL‑EXP，生成语法类缺陷模式；其中，所述SDDL‑EXP为预定的值相关缺陷模式语言；根据所述语法类缺陷模式，在被测代码中查找检测点，并将所述语法类缺陷模式中的缺陷发生的条件实例化；根据预设的规范化策略，将所述被测代码中的变量及表达式进行转换；对转换后的被测代码进行后向的数据流分析，根据实例化的条件验证在所述检测点处是否有缺陷发生。本发明还同时公开了一种缺陷处理器。采用本发明的技术方案，能够便捷地扩充与用户相关的缺陷模式，并且通过该缺陷模式进行有效的缺陷检测，提升了用户的体验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种缺陷处理方法，其特征在于，所述方法包括：通过表达式值静态默认描述语言SDDL‑EXP生成缺陷模式；其中，所述SDDL‑EXP为预定的值相关缺陷模式语言；所述缺陷模式由以下标签组成：根标签<Default>，以及所述根标签<Default>的一级子标签：<Pattern>、<Operand>和<Condition>，以及所述一级子标签<Operand>的二级子标签：<Order>和<Symbol>；根据所述缺陷模式，在被测代码中查找检测点，并将所述缺陷模式中的缺陷发生的条件实例化；根据预设的规范化策略，将所述被测代码中的变量及表达式进行转换；对转换后的被测代码进行后向的数据流分析，根据实例化的条件验证在所述检测点处是否有缺陷发生。
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