[发明专利]一种薄单砂层厚度预测方法有效

专利信息
申请号: 201310517846.8 申请日: 2013-10-28
公开(公告)号: CN104142516A 公开(公告)日: 2014-11-12
发明(设计)人: 刘忠亮;李勤英;蔡其新;郝加良;苗翠芝;王同锤;陈喜萍;李清辰 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司中原油田分公司物探研究院
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 赵敏
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种薄单砂层厚度预测方法,属于油藏储层预测技术,是利用高精度三维地震提取的平均反射强度属性简单、快捷定量描述薄单砂层厚度的有效预测方法,包括地震属性的优选、确定提取属性的时窗范围、提取平均反射强度属性并归一化处理、建立平均反射强度值与单砂层厚度的关系式、单砂层厚度计算及极值校正、编制单砂层厚度图。本发明利用小时窗沿层提取平均反射强度预测薄单砂层厚度及平面展布的方法,提高了薄单砂层预测的效率和有效性,解决了井间的注采矛盾,使得单砂层厚度预测吻合率大于80%。
搜索关键词: 一种 砂层 厚度 预测 方法
【主权项】:
一种薄单砂层厚度预测方法,其特征包括以下步骤:①地震属性的优选:通过优选确定平均反射强度属性为对砂岩变化最敏感的地震属性;②确定提取时窗范围:根据步骤①确定平均反射强度属性,参考已钻井同一沉积旋回的单砂层厚度变化范围,确定提取平均反射强度的时窗范围;③提取平均反射强度属性并归一化处理:沿追踪的目标单砂层顶或底在确定的时窗范围内提取平均反射强度,并对平均反射强度进行归一化处理;④建立平均反射强度值与单砂层厚度的关系式:根据单砂层厚度值与对应的平均反射强度值数据表形成交汇图,并拟合线性关系;⑤单砂层厚度计算与极值矫正:利用步骤④的线性关系式将平均反射强度值换算出单砂层厚度值,对低值区和高值区单砂层厚度值进行校正;⑥编制单砂层厚度图:将步骤⑤所得的一组数据在作图软件里形成平面等值线图并填充颜色,形成单砂层的平面展布图。
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