[发明专利]一种基于光致发光的太阳能硅片分选系统及方法有效
申请号: | 201310520548.4 | 申请日: | 2013-10-29 |
公开(公告)号: | CN103521463A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 张爱平;王欣 | 申请(专利权)人: | 高佳太阳能股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/36;G01R31/26 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 214174 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种基于光致发光的太阳能硅片分选系统及方法,该系统包括激光发射装置、数据采集装置及上位机。所述激光发射装置与上位机电性连接,用于向待分选硅片的表面照射激光。所述数据采集装置与上位机电性连接,用于采集待分选硅片反馈的荧光信号。所述上位机用于对荧光信号分析,获取待分选硅片的位错密度信息和杂质含量信息,确定硅片的等级,并根据多晶硅铸锭中硅片的位错密度和杂质含量的变化,分析多晶铸锭过程中的不足。本发明可以有效分选不同性能的硅片,去除高位错密度或高杂质含量的低效硅片,从而避免电池因低效硅片影响整个电池的转换效率,同时,可以分析多晶铸锭过程中出现的不良状况,对多晶铸锭进行过程优化。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光致发光 太阳能 硅片 分选 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种基于光致发光的太阳能硅片分选系统,其特征在于,包括激光发射装置、数据采集装置及上位机;所述激光发射装置与上位机电性连接,用于根据上位机输出的指令,向待分选硅片的表面照射激光;所述数据采集装置与上位机电性连接,用于采集所述待分选硅片反馈的荧光信号,输出给上位机;所述上位机与激光发射装置、数据采集装置电性连接,用于对所述荧光信号进行分析,获取所述待分选硅片的位错密度信息和杂质含量信息,按照预设等级划分规则,确定该待分选硅片的等级,并根据多晶硅铸锭中硅片的位错密度和杂质含量的变化,分析多晶铸锭过程中的不足。
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