[发明专利]磁盘阵列测试方法

摘要

本发明提供一种磁盘阵列测试方法，用于计算机系统中的磁盘阵列，磁盘阵列包含多个硬盘。磁盘阵列测试方法包含下列步骤：读取计算机系统的缓存器的硬盘参数，其中硬盘参数与硬盘的数目相关；根据硬盘参数，设定计算机系统的系统芯片组的地址映像缓存器，以记录硬盘的数目；启始磁盘阵列的选项只读存储器，其中选项只读存储器包含测试程序代码；根据地址映像缓存器记录的数目设定测试程序代码中的变量；执行测试程序代码的第一测试区块；以及根据变量判断硬盘的数目，自测试程序代码的多个第二测试区块中，选择其中之一执行。

主权项

一种磁盘阵列测试方法，其特征在于，用于一计算机系统中的一磁盘阵列，该磁盘阵列包含多个硬盘，该磁盘阵列测试方法包含下列步骤：读取该计算机系统的一缓存器的一硬盘参数，其中该硬盘参数与该多个硬盘的一数目相关；根据该硬盘参数，设定该计算机系统的一系统芯片组的一地址映像缓存器，以记录该多个硬盘的该数目；启始该磁盘阵列的一选项只读存储器，其中该选项只读存储器包含一测试程序代码；根据该地址映像缓存器记录的该数目设定该测试程序代码中的一变量；执行该测试程序代码的一第一测试区块；以及根据该变量判断该多个硬盘的该数目，自该测试程序代码的多个第二测试区块中，选择其中之一执行。