[发明专利]阻抗测量的肯内利圆插值法无效

专利信息
申请号: 201310524978.3 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN104602175A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: A·埃德格伦;赵娜 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H04R29/00 分类号: H04R29/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;刘久亮
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及阻抗测量的肯内利圆插值法。本发明的实施方式致力于提供一种对与电子装置相关联的阻抗数据进行插值的系统、方法以及计算机程序产品。本发明使能更快速进行电子装置阻抗分析,其又对与控制该电子装置的计算系统相关联的存储器分配有影响。一个示例性方法包括以下步骤:接收复阻抗数据;将所述复阻抗数据转换成极坐标阻抗数据,其中,所述极坐标阻抗数据限定了肯内利圆;基于与所述肯内利圆相关联的至少一个参数来归一化所述极坐标阻抗数据;以及针对选定频率来对所述极坐标阻抗数据进行插值。
搜索关键词: 阻抗 测量 肯内利圆插值法
【主权项】:
一种对与电子装置相关联的复阻抗数据进行插值的方法,该方法包括以下步骤:利用计算装置处理器来接收所述复阻抗数据;利用计算装置处理器将所述复阻抗数据转换成极坐标阻抗数据,其中,所述极坐标阻抗数据限定了肯内利圆;利用计算装置处理器,基于与所述肯内利圆相关联的至少一个参数来归一化所述极坐标阻抗数据;以及利用计算装置处理器,针对选定频率来对所述极坐标阻抗数据进行插值。
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