[发明专利]一种无功补偿自动化校表设备在审
| 申请号： | 201310527505.9 | 申请日： | 2013-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN104597421A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 张澎;张劲 | 申请（专利权）人： | 南通富士特电力自动化有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人： | 黄珩 |
| 地址： | 226000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无功补偿自动化校表设备，用于自动化校正电压、电流、功率因数、谐波等电能参数，包括高精密程控源、A/D采样芯片、控制器以及通讯电路。控制器通过RS485通讯电路通讯，采用随机序列的算法和RS485通讯电路接收口电平的变化来识别被测模块，根据被测模块和控制器测量值计算出被测模块的测量误差系数，用计算出的系数与设置好的系数范围比较，超过范围报警，不超过范围则下发给被测电容模块。本发明由于采用自动化设置，采用随机序列产生的数来固化被测模块地址，防止地址重复，能够减少出错率，提高工作效率，节省成本及人力资源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无功 补偿 自动化 设备 | ||
【主权项】：
一种无功补偿自动化校表设备，用于自动化校正电压、电流、功率因数、谐波等电能参数，包括高精密程控源与校表控制器，其特征在于，所述校表控制器一端外接高精密程控源，另一端连接被测对象，所述校表控制器包括A/D采样芯片、MCU芯片以及通讯电路，所述A/D采样芯片连接所述MCU芯片，所述校表控制器采用通讯电路与被测对象进行通讯。
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