[发明专利]测量仪器线激光测头测量数据拟合系统及方法无效

专利信息
申请号: 201310528379.9 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN104596438A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: 张滋;徐韦;陈斌;屈保锋 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 代理人:
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种测量仪器线激光测头测量数据拟合系统及方法,该方法包括:获取第一线激光测头和第二线激光测头测量待测物体所得到的轮廓数据;若所述获取到的待测物体的轮廓数据在待测轮廓范围内,利用第一线激光测头测量的轮廓数据和第二线激光测头测量的轮廓数据,计算两个激光测头之间的倾角值;根据所述两个激光测头测量的轮廓数据,计算两个激光测头的位差值和间距值;按照两个激光测头的倾角、位差值和间距值建立两个激光测头测量的轮廓数据的拟合关系;根据上述拟合关系利用两个激光测头测量的轮廓数据来产生待测物体的量测结果。本发明能对两个测头数据进行拟合,实现对两个不同型号测头的数据进行计算处理。
搜索关键词: 测量 仪器 激光 数据 拟合 系统 方法
【主权项】:
一种测量仪器线激光测头测量数据拟合系统,运行于测量仪器中,该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头,其特征在于,所述系统包括:测量模块,用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对待测物体进行测量,并分别获取第一线激光测头和第二线激光测头测量待测物体所得到的待测物体的轮廓数据;接收模块,用于接收用户输入的待测物体的待测轮廓范围;计算模块,用于当所述获取到的待测物体的轮廓数据在所述待测轮廓范围内时,利用第一线激光测头测量待测物体得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该待测物体得到的轮廓数据,计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值;所述计算模块还用于根据所述第一线激光测头和第二线激光测头测量所述待测物体的轮廓数据,计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值;拟合模块,用于按照第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值和间距值建立第一线激光测头测量的轮廓数据与第二线激光测头测量的轮廓数据的拟合关系;所述测量模块还用于根据上述拟合关系利用第一线激光测头和第二线激光测头测量的的轮廓数据进行坐标量测计算,以产生待测物体的量测结果。
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