[发明专利]一种集成电路的金属布线结构无效

专利信息
申请号: 201310529950.9 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN103531577A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 叶艳;李晓骏 申请(专利权)人: 西安华芯半导体有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L23/485
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710055 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种集成电路(后道工艺中的)金属布线结构,能够简便、有效地产生集成电路中信号间的电容。该集成电路的金属布线结构,包括n层金属,n大于1,每层金属为多条平行的金属线,其中同层金属存在传输不同信号的金属线;相邻层金属存在传输不同信号的金属线;相邻层金属,传输相同信号的金属线之间通过通孔上下相接。本发明在集成电路中仅通过使用金属互联线(金属层)就可以产生电容;不需要使用有源区的面积;电容的速度快;由于电容是在芯片生产的后道工艺中制作,即使芯片的前道工艺已经完成,还可以有机会和时间设计和制作这样的电容。
搜索关键词: 一种 集成电路 金属 布线 结构
【主权项】:
一种集成电路的金属布线结构,包括n层金属,n大于1,其特征在于:每层金属为多条平行的金属线,其中同层金属存在传输不同信号的金属线;相邻层金属存在传输不同信号的金属线;相邻层金属,传输相同信号的金属线之间通过通孔上下相接。
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