[发明专利]用于识别地下物质层的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310530719.1 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN104598705B 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 王瑜;张超;严骏驰;田春华;董维山;张欣;马春洋;黄文强 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G01V99/00 分类号: G01V99/00;G06F19/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 曾琳
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及用于识别地下物质层的方法和装置。该方法包括:获取待勘测位置的测井日志,测井日志包括对应于多个地球物理参数的数据序列,每个地球物理参数的数据序列包括该参数在不同的地下深度处的测量值;将对应于每种层过渡类型的每个地球物理参数的参考数据序列与测井日志中的该地球物理参数的数据序列在不同的地下深度处进行匹配,其中,每种层过渡类型指示上层物质层和相邻的下层物质层,该参考数据序列用于表征该地球物理参数在符合该种层过渡类型的过渡区域中的变化趋势;以及根据匹配结果确定待勘测位置处包含的层过渡类型及该层过渡类型指示的上层物质层和下层物质层分界的地下深度。通过上述方案,能够提高对地下物质层的识别的准确率。
搜索关键词: 用于 识别 地下 物质 方法 装置
【主权项】:
1.一种用于识别地下物质层的方法,包括:获取待勘测位置的测井日志,所述测井日志包括对应于多个地球物理参数的数据序列,每个地球物理参数的数据序列包括该地球物理参数在不同的地下深度处的测量值;将对应于多种层过渡类型中的每一种的每个地球物理参数的参考数据序列与所述测井日志中的该地球物理参数的数据序列在不同的地下深度处进行匹配,其中,每种层过渡类型指示上层物质层和相邻的下层物质层,该参考数据序列用于表征该地球物理参数在符合该种层过渡类型的过渡区域中的变化趋势;根据匹配结果,确定所述待勘测位置处包含的层过渡类型及该层过渡类型指示的上层物质层和下层物质层分界的地下深度;以及对每个参考数据序列和所述测井日志中的每个地球物理参数的数据序列进行多级别采样,其中,所述将对应于多种层过渡类型中的每一种的每个地球物理参数的参考数据序列与所述测井日志中的该地球物理参数的数据序列在不同的地下深度处进行匹配包括:将经多级别采样的参考数据序列与经多级别采样的数据序列在不同的地下深度处进行匹配。
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