[发明专利]一种芯片烧录校验方法有效

专利信息
申请号: 201310532466.1 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN103559099B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 邓振东;陈思波 申请(专利权)人: 惠州市蓝微电子有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司44102 代理人: 任海燕
地址: 516006 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种芯片烧录校验方法,包括以下步骤S1用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验参数;S2烧录校验设备进行检测;S3对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验;S4对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验;S5对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验。本发明的通信方式由串行模式转变为并行模式,采用边烧录边校验验证的多通道单独比对的方式,及时的发现烧录异常环节,及时判定测试异常的通道,提高了烧录校验的整体测试效率,有效的辨认通道接触上电状况,防止通道插反插错,有效的避免因取板出错而导致的品质事故发生。
搜索关键词: 一种 芯片 校验 方法
【主权项】:
一种实现BQ2022A烧录校验的方法,其特征在于,包括以下烧录校验步骤:S1:用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验的序列号ID参数、文件字节参数和烧录状态保护位参数;S2:烧录校验设备进行检测,识别辨认当前通道的通信线路的导通情况和通道间是否插反、插错,若通道状态正常,则进入芯片烧录校验模式,继续执行后续步骤S3至S5;若通道状态异常,则发出报警信号,通知用户,终止执行后续步骤S3至S5;S3:对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验;S4:对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验;S5:对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验。
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