[发明专利]一种基于结构函数的LED热特性测试方法无效

专利信息
申请号: 201310532510.9 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN103605085A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 周泰武;李文礼;彭应光;万文华 申请(专利权)人: 桂林机床电器有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 陈月福
地址: 541002 广*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明涉及LED光源构造体,是一种基于结构函数的LED热特性测试方法。所述方法包括:选择两组不同封装结构的LED灯具,所述两组LED灯具的封装体与材料不同;利用LED的U—I曲线漂移在小电流情况下与PN结,记录灯具在恒流驱动下结点电压VF与温度TJ,计算比例系数S;测量瞬态降温曲线时,分别将两组LED灯具放在25~75℃的环境温度下,用350mA的额定电流驱动样品10min达到热稳态后,瞬态测试开始记录降温曲线;通过在样品下方放一张纸做隔离,然后采用不同的散热板,记录所得曲线;根据降温曲线利用软件分析计算微分结构函数Rth,结合被测的LED灯具的结构和曲线中的拐点位置,得到LED芯片到引脚的热阻K。
搜索关键词: 一种 基于 结构 函数 led 特性 测试 方法
【主权项】:
一种基于结构函数的LED热特性测试方法,其特征在于,所述方法包括如下:(1)选择两组不同封装结构的LED灯具,所述两组LED灯具的封装体与材料不同;(2)利用LED的U—I曲线漂移在小电流情况下与PN结温度形成的线性关系的特点,记录两组灯具的在恒流驱动下结点电压VF与温度TJ,分别计算出他们的比例系数S; S = dV F dT J (3)测量瞬态降温曲线时,分别将两组LED灯具放在25~75℃的环境温度下,用350mA的额定电流驱动样品10min达到热稳态后,瞬态测试开始记录降温曲线;(4)通过在样品下方放一张纸做隔离,然后采用不同的散热板,记录所得曲线并与降温曲线对比;(5)根据降温曲线利用软件分析计算微分结构函数Rth,结合被测的LED灯具的结构和曲线中的拐点位置,得到LED芯片到引脚的热阻K。
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