[发明专利]一种电子器件的检漏方法无效
| 申请号： | 201310532543.3 | 申请日： | 2013-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103557995A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 周泰武;李文礼;彭应光;万文华 | 申请（专利权）人： | 桂林机床电器有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/06 | 分类号： | G01M3/06;G01M3/20 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 陈月福 |
| 地址： | 541002 广*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子电路技术领域，特别涉及一种电子器件的检漏方法。包括如下步骤：将被检电子器件放入加压容器，待容器抽成真空后，用纯度为99.999%高压的示踪气体氦对器件加压；待加压处理完毕后，将电子器件直接浸入到轻氟油中，通过观察器件是否冒泡来进行判断；将经过冒泡合格的被检电子器件放入真空容器，采用氦质谱抽真空检漏法进行漏率测试和判断。通过本发明所述的检漏方法，在原有设备下，提高检漏的效率、无需净化处理、避免了引入新的缺陷、同时节约了检漏成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子器件 检漏 方法 | ||
【主权项】：
一种电子器件的检漏方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：将被检电子器件放入加压容器，待容器抽成真空后，用纯度为99.999%高压的示踪气体氦对器件加压；步骤2：待加压处理完毕后，将电子器件直接浸入到轻氟油中，通过观察器件是否冒泡来进行判断；步骤3;将经过冒泡合格的被检电子器件放入真空容器，采用氦质谱抽真空检漏法进行漏率测试和判断。
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