[发明专利]芯片的封装结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310533175.4 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN103531560A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 谭小春 申请(专利权)人: 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/13;H01L23/31;H01L21/48;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 310012 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种芯片的封装结构及其制造方法,包括:承载盘、芯片、多个第一导电块和塑封料;所述承载盘的正面具有多个凸起焊盘;所述芯片具有一有源面,所述第一导电块的一端与所述有源面电连接,所述第一导电块的另一端与所述凸起焊盘电连接;所述塑封料包围所述芯片并填满所述承载盘和所述芯片之间的空间。在本发明提供的芯片的封装结构及其制造方法中,通过刻蚀在承载盘的正面形成凸起焊盘,在凸起焊盘与芯片的有源面实现电连接的同时,增大了塑封料在芯片与承载盘之间的流通通道,使得塑封料能够填满芯片与承载盘之间的空间,因此塑封之前不必进行底部填充工艺,降低了封装成本。
搜索关键词: 芯片 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种芯片的封装结构,其特征在于,包括:承载盘、芯片、多个第一导电块和塑封料;所述承载盘的正面设置有多个凸起焊盘;所述芯片具有一有源面,所述第一导电块的一端与所述有源面电连接,所述第一导电块的另一端与所述凸起焊盘电连接;所述塑封料包围所述芯片并填满所述承载盘和所述芯片之间的空间。
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