[发明专利]基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201310533602.9 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN103575220A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 颜树华;魏春华;林存宝;王国超;邹鹏飞;罗玉昆;胡青青 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人: 赵洪;周长清
地址: 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统及测量方法,该系统包括激光器、用于产生衍射的光栅、光纤耦合器和光电探测器,所述激光器输出的光经光纤传输并入射到光栅上形成各级衍射光;一组对称级次的衍射光通过耦合后进入光纤耦合器;该组衍射光在光纤耦合器中发生干涉后经光纤耦合器输出光干涉场信号,在光纤耦合器输出端设有记录输出光信号的光电探测器,后续电路对接收信号进行处理后得到光栅在某一方向的位移量。该方法为基于上述测量系统所进行的测量方法。本发明具有小型化、一体化、大量程、高精度等优点。
搜索关键词: 基于 光纤 耦合器 小型化 光栅 干涉 测量 系统 测量方法
【主权项】:
一种基于光纤耦合器的小型化单光栅干涉测量系统,其特征在于,包括激光器、用于产生衍射的光栅、光纤耦合器和光电探测器,所述激光器输出的光经光纤传输并入射到光栅上形成各级衍射光;一组对称级次的衍射光通过耦合后进入光纤耦合器;该组衍射光在光纤耦合器中发生干涉后经光纤耦合器输出光干涉场信号,在光纤耦合器输出端设有记录输出光信号的光电探测器,并对接收信号进行处理后得到光栅在某一方向的位移量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科学技术大学,未经中国人民解放军国防科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310533602.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top