[发明专利]工业CT三维精密测量与校准方法无效
| 申请号： | 201310535100.X | 申请日： | 2013-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103558237A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 谭晔 | 申请（专利权）人： | 谭晔 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 缪友菊 |
| 地址： | 210012 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种工业CT三维精密测量与校准方法，包括工业CT扫描参数优化和工业CT三维测量精密校准两部分。本发明在大量实验室研发与工业应用的基础上，针对“主要扫描参数的设置”、“三维重构过程中射线束硬化现象的修正”以及“三维建模与精密测量过程中的体素尺寸、边界定义校准”三个影响工业CT三维测量质量的重要环节对传统工艺进行了创新性优化，本发明方法可以大幅提高工业CT三维测量的精度与稳定度，从而可以极大地拓展其在精密测控、三维建模、对复杂机械内外结构的定性定量分析以及逆向工程等领域的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 工业 ct 三维 精密 测量 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种工业CT三维精密测量与校准方法，包括工业CT扫描参数优化和工业CT三维测量精密校准两部分，其特征在于：工业CT扫描参数优化方法为：一、获得待测工件，并对待测工件性质分析，分析其材料组成、最大穿透尺寸、综合尺寸和精度要求；二、将待测工件性质信息输入到优化数据库，然后分两个体系来优化各项参数：体系一：（1）选择待测工件的固定方法：a、选取待测工件的固定材料：选取对X射线的吸收能力远低于待测工件本身的材料作为固定材料，将待测工件完全粘贴于固定材料上方或者将待测工件完全埋入固定材料中进行扫描；b、选取工件在选择台上的相对位置：使待测工件的主轴与旋转台表面保持15°至30°的夹角，当扫描圆柱形工件时，避免将工件要避免将工件置于旋转轴中心；（2）设定待测工件的放大系数：依据需要达到的测量精度确定需要的体素尺寸，体素尺寸=P/(SDD/SOD)，P为X射线平面探测器的正方形像素边长；SOD为X射线发生器到转动载物台的距离；SDD为X射线发生器到X射线平面探测器的距离，工业CT的三维尺寸测量精度至少可以达到体素分辨率的三分之一，因而通过调整SOD来实现来实现需要达到的体素尺寸，从而满足测量精度；（3）计算所需二维图像的数量：按照如下公式：R=[(π/N)*(W/Sin(90‑arctan(L/W)))]/(2*P*SOD/SDD)；R为判定系数；N为二维图像的数量；L、W分别为待测工件的长与宽；P为X射线探测屏的像素大小；SOD为X射线发生器到转动载物台的距离；SDD为X射线发生器到X射线平面探测器的距离；其中，L与W由待测工件本身尺寸决定，P与SDD由硬件系统本身决定，SOD由所需测量精度要求决定，二维图像数量N的选取，需满足0.99
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