[发明专利]一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法有效
申请号: | 201310541278.5 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN103529066A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 马雁;许雁泽;张书玉;陈义学 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 北京麟保德和知识产权代理事务所(普通合伙) 11428 | 代理人: | 周恺丰 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了单晶材料定向标定技术领域中的一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法。包括:获取劳埃照片并测量劳埃照片与晶体间距离h;在劳埃照片的三条低指数晶带上分别找出一个属于同一晶面族的衍射斑点;在劳埃照片底部衬上一张坐标纸;调整劳埃照片,使得三个衍射斑点中的任意两个衍射斑点分别位于坐标纸原点和x轴正方向上;根据三个衍射斑点的坐标、劳埃照片中心点的坐标和距离h,求解(111)晶面的衍射斑点的坐标;根据(111)晶面的衍射斑点的坐标,将(111)晶面标定在劳埃照片上。本发明借助坐标纸直接在劳埃照片上标定(111)晶面,计算简单且计算速度快,同时避免了中间步骤带来的计算误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 立方 晶体 背射劳埃 照片 标定 111 方法 | ||
【主权项】:
一种在立方晶体背射劳埃照片上标定(111)晶面的方法,其特征是所述方法包括:步骤1:获取劳埃照片,测量劳埃照片与晶体间距离h;步骤2:在劳埃照片的三条低指数晶带上分别找出一个属于同一晶面族的衍射斑点;步骤3:在劳埃照片底部衬上一张坐标纸;步骤4:调整劳埃照片,使得三个所述衍射斑点中的任意两个衍射斑点分别位于坐标纸原点和x轴正方向上;将位于坐标纸原点的衍射斑点记为A点,位于坐标纸x轴正方向上的衍射斑点记为B点,剩下一个衍射斑点记为C点;步骤5:分别读取B点、C点和劳埃照片中心点在坐标纸上的坐标;步骤6:根据如下方程组求解(111)晶面的衍射斑点在坐标纸上的坐标x和y,以及辅助验算项z; z = x 0 × ( x 0 - x ) + y 0 × ( y 0 - y ) + h 2 x 0 2 + y 0 2 + h 2 × ( x 0 - x ) 2 + ( y 0 - y ) 2 + h 2 z = ( x 0 - x b ) × ( x 0 - x ) + y 0 × ( y 0 - y ) + h 2 ( x 0 - x b ) 2 + y 0 2 + h 2 × ( x 0 - x ) 2 + ( y 0 - y ) 2 + h 2 z = ( x 0 - x c ) × ( x 0 - x ) + ( y 0 - y c ) × ( y 0 - y ) + h 2 ( x 0 - x c ) 2 + ( y 0 - y c ) 2 + h 2 × ( x 0 - x ) 2 + ( y 0 - y ) 2 + h 2 其中,x0和y0为劳埃照片中心点在坐标纸上的坐标;xb和yb为B点在坐标纸上的坐标;xc和yc为C点在坐标纸上的坐标;步骤7:根据(111)晶面的衍射斑点在坐标纸上的坐标,将(111)晶面标定在劳埃照片上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华北电力大学,未经华北电力大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310541278.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。