[发明专利]可实现离轴反射镜离轴参数精确测量的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201310543043.X 申请日: 2013-11-05
公开(公告)号: CN103791843A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 张学敏;魏儒义;宋兴;段战军;闫肃;侯晓华;李华 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/26
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种可实现离轴反射镜离轴量及离轴角精确测量的系统及方法,该系统包括直角弯板、基准轴形成部件以及测微光管;待测离轴反射镜以及所述基准轴形成部件分别设置在直角弯板的两个直角边上;待测离轴反射镜设置在测微光管的出射光路上并在直角弯板上沿直角边进行自如上下移动;所述基准轴形成部件设置在经待测离轴反射镜的反射光路上。本发明提供了一种测量精度高的可实现离轴反射镜离轴参数精确测量的系统及方法。
搜索关键词: 实现 反射 镜离轴 参数 精确 测量 系统 方法
【主权项】:
一种可实现离轴反射镜离轴参数精确测量的系统,其特征在于:所述可实现离轴反射镜离轴参数精确测量的系统包括直角弯板、基准轴形成部件以及测微光管;待测离轴反射镜以及所述基准轴形成部件分别设置在直角弯板的两个直角边上;待测离轴反射镜设置在测微光管的出射光路上并在直角弯板上沿直角边进行自如上下移动;所述基准轴形成部件设置在经待测离轴反射镜的反射光路上。
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