[发明专利]光学位置测量装置有效
申请号: | 201310544698.9 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN103808260B | 公开(公告)日: | 2017-10-13 |
发明(设计)人: | 沃尔夫冈·霍尔扎普费尔;约尔格·德雷谢尔;马库斯·迈斯纳;拉尔夫·约尔格尔;伯恩哈德·默施;托马斯·卡埃尔贝雷尔 | 申请(专利权)人: | 约翰内斯﹒海德汉博士有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,李慧 |
地址: | 德国特劳*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种光学位置测量装置。这一装置包括第一整体量具,该第一整体量具具有第一测量分度并且可移动地沿第一测量方向布置。第一整体量具在沿第一测量方向的至少一个定义的位置处具有空间上受限的第一标记,该第一标记与第一测量分度不同。另外,位置测量装置包括第二整体量具,该第二整体量具具有第二测量分度并且可移动地沿第二测量方向布置。第二整体量具在至少一个位置处具有第二参考标记,该第二参考标记只在第一整体量具位于沿第一测量方向的那个由第一标记预定的定义的位置时才能用于在第二整体量具的参考位置处产生至少一个第二参考信号。 | ||
搜索关键词: | 光学 位置 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种光学位置测量装置,具有:‑第一整体量具(10),所述第一整体量具具有第一测量分度(11;111),所述第一整体量具可移动地沿第一测量方向(x)布置,其中,所述第一整体量具(10)在沿所述第一测量方向(x)的至少一个定义的位置处具有空间上受限的第一标记(15;150),所述第一标记与所述第一测量分度(11;111)不同,以及‑第二整体量具(20),所述第二整体量具具有第二测量分度(21),所述第二整体量具可移动地沿第二测量方向布置,其中,所述第二整体量具(20)在至少一个位置处具有第二参考标记(25),所述第二参考标记只在所述第一整体量具(10)位于沿所述第一测量方向(x)的那个由所述第一标记(15;150)预定的定义的所述位置时才能用于在所述第二整体量具(20)的参考位置处产生至少一个第二参考信号。
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