[发明专利]一种光谱响应度校准方法及其装置有效
| 申请号： | 201310549393.7 | 申请日： | 2013-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN103542934A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 陈聪;潘建根;杨静 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光谱响应度校准方法及其装置，通过采用连续可调的单波长辐射源、可输出一个以上离散波长的激光装置以及混光器相结合，不仅可实现光谱辐照度和光谱辐亮度的测量，而且可利用离散光谱响应度校准光谱响应度曲线提高测量准确度，具有结构简单、功能齐全、性价比高、操作方便、便于推广和使用等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 响应 校准 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种光谱响应度校准方法，其特征在于，利用波长连续可调的单波长辐射源(1)、混光器(2)、可在待校波段内输出一个以上离散波长激光的激光装置(3)以及标准探测装置(4)，实现待校探测装置(5)光谱响应度校准：在待校波段内，单波长辐射源(1)发出的单色光或激光装置(3)发出的离散波长激光经混光器(2)混光后，分别入射到待校探测装置(5)和已知光谱响应度的标准探测装置(4)中；依次比较在单波长辐射源(1)发出的同一单色光入射时的待校探测装置(5)与标准探测装置(4)的响应值，结合标准探测装置(4)的绝对光谱响应度，即可计算出待校探测装置(5)的光谱响应度曲线；依次比较在激光装置(3)发出的同一离散波长激光入射时的待校探测装置(5)与标准探测装置(4)的响应值，结合标准探测装置(4)的绝对光谱响应度，即可计算出待校探测装置(5)的离散光谱响应度；利用待校探测装置(5)的离散光谱响应度校正光谱响应度曲线。
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