[发明专利]合成孔径声纳图像的仿真方法及系统在审
申请号: | 201310549562.7 | 申请日: | 2013-11-07 |
公开(公告)号: | CN103593877A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 朱兆彤;彭石宝;许稼;张旭东;闫慧辰;许肖梅 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06T19/00 | 分类号: | G06T19/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种合成孔径声纳图像的仿真方法及系统,包括以下步骤:输入合成孔径声纳参数和场景的三维模型;对三维模型进行插值以得到场景的点云模型,并根据合成孔径声纳参数和点云模型得到有效的散射点集;分别计算有效的散射点集中多个散射点的散射强度;将有效的散射点集中多个散射点映射到二维成像平面;根据二维成像平面分别得到多个散射点的响应函数;以及根据多个散射点的响应函数得到最终的场景的成像结果。根据本发明实施例的方法,通过声纳参数和场景的三维模型得到有效的散射点集,并得到散射点的响应函数,以获得场景的成像结果,提高了仿真速度和效果,同时降低了运算量,保证了实时性,适用于复杂的场景仿真。 | ||
搜索关键词: | 合成 孔径 声纳 图像 仿真 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种合成孔径声纳图像的仿真方法,其特征在于,包括以下步骤:输入合成孔径声纳参数和场景的三维模型;对所述三维模型进行插值以得到所述场景的点云模型,并根据所述合成孔径声纳参数和所述点云模型得到有效的散射点集;分别计算所述有效的散射点集中多个散射点的散射强度;将所述有效的散射点集中多个散射点映射到二维成像平面;根据所述二维成像平面分别得到所述多个散射点的响应函数;以及根据所述多个散射点的响应函数得到最终的所述场景的成像结果。
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