[发明专利]一种测量功率型LED热阻的方法

摘要

本发明涉及半导体领域，确切地说，是一种测量功率型LED热阻的方法。所述方法包括：将待测LED放置于恒温箱内，调节恒温箱的温度为30℃，加热保持30分钟；待加热完毕后，调整恒流源使待测LED流过的电流为5mA,等待测LED正向压降稳定时，记录相应的正向压降；将恒温箱温度分别设置为40℃、50℃、60℃、70℃、80℃K为电压随温度变化的系数，T为测试条件稳定时LED的结温温度，T0为指定环境的待测温度，VFT、VF0分别为环境温度T、T0时LED两端的电压；将恒温箱控制在30℃，待测LED两端施加测试电流IM(5mA)，记下此时LED正向电压VF1，加热电流IH设置为200mA，代替IM加到LED两端，待LED器件稳态时，测量正向压降VH，并得到耗散功率Ps。

主权项

一种测量功率型LED热阻的方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1：将待测LED放置于恒温箱内，调节恒温箱的温度为30℃，加热保持30分钟；步骤2：待加热完毕后，调整恒流源使待测LED流过的电流为5mA,等待测LED正向压降稳定时，记录相应的正向压降；步骤3：将恒温箱温度分别设置为40℃、50℃、60℃、70℃、80℃，重复步骤1、2，并记录各温度下的正向压降；步骤4：利用公式（1），采用最小二乘法对测试数据拟合，求出K系数值：VFT＝VF0+K(T‑T0)    （1）式（1）中，K为电压随温度变化的系数，T为测试条件稳定时LED的结温温度，T0为指定环境的待测温度，VFT、VF0分别为环境温度T、T0时LED两端的电压；步骤5：将恒温箱控制在30℃，待测LED两端施加测试电流IM(5mA)，记下此时LED正向电压VF1，加热电流IH设置为200mA，代替IM加到LED两端，待LED器件稳态时，测量正向压降VH，并得到耗散功率Ps;Ps＝IH·VH     （2）步骤6：将IM迅速取代IH加到LED两端，测得此时的正向电压VFF;步骤7：分别设置为250mA、300mA、350mA,重复步骤5和6；步骤8：将所测的数据带入公式（3）、（4）得到待测LED的结温与热阻：VF＝|VF1‑VFF|    （3） R 0 = V F K · I H · V H - - - ( 4 ) 式（3）、（4）中，R0待测器件PN结到指定环境之间的热阻，VF为正向电压VF1与VFF的势压差。