[发明专利]压力控制系统与航天器密封舱连接处漏率检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310552406.6 申请日: 2013-11-08
公开(公告)号: CN103674448B 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 武越;许忠旭;裴一飞;杜春林;郭子寅;马永来;孙娟 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M3/28 分类号: G01M3/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种真空热试验用压力模拟控制系统与航天器密封舱连接处漏率检测装置及检测方法,包括漏率检测工装、高精度真空测量装置、航天器密封舱、压力模拟控制系统管道、氦质谱检漏系统,氦质谱检漏系统包括辅助抽气泵、氦质谱检漏仪、真空标准漏孔、管道、阀门等,高精度真空测量装置包括真空计、电连接器、通讯线缆、真空规、辅助容器,其中,所述漏率检测工装通过法兰分别与航天器密封舱、压力模拟控制系统管道和氦质谱检漏系统连接,所述高精度真空测量装置中的辅助容器安装在航天器密封舱内。
搜索关键词: 压力 控制系统 航天器 密封 连接 处漏率 检测 装置 方法
【主权项】:
一种真空热试验用压力模拟控制系统与航天器密封舱连接处的漏率检测装置,包括漏率检测工装、高精度真空测量装置、航天器密封舱、压力模拟控制系统管道、氦质谱检漏系统,其中,所述漏率检测工装通过法兰分别通过检漏法兰、对接法兰、转接法兰与航天器密封舱、压力模拟控制系统管道和氦质谱检漏系统连接,所述压力模拟控制系统管道与漏率检测工装的连接形式为固定式真空法兰,连接处有两道密封,第一道密封位于压力模拟控制系统管道外侧,密封槽形式为梯形,第二道密封位于固定式真空法兰上,密封槽形式为矩形,主密封面粗糙度优于Ra1.6,次密封面粗糙度优于Ra3.2;所述高精度真空测量装置包括真空计、电连接器、通讯线缆、真空规、辅助容器,所述真空规位于辅助容器内,通过通讯线缆、电连接器与真空计连接,所述辅助容器设置在航天器密封舱内,其内部始终保持1个大气压和常温的状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所,未经北京卫星环境工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310552406.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top