[发明专利]一种应用正态分布方法的统计分析方法在审
| 申请号： | 201310555116.7 | 申请日： | 2013-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN103559291A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 李军;王世盛;迟宝华 | 申请（专利权）人： | 大连东方之星信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/30 | 分类号： | G06F17/30;G06Q50/20 |
| 代理公司： | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人： | 李洪福 |
| 地址： | 116000 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用正态分布方法的统计分析方法，其特征在于包括：接收样本，从模块宿主处接收样本S，同时备份原样本S1；判断S的数量是否符合正态分布，当数据合法，获取样本的最大精度P(A2)，根据P和S的平均值计算获取均值X；如果数据不合法，结束操作，向样本中填充足够数量的无意义数据使样本数量符合正态分布A1；根据正态分布公式，生成正态分布图形所需要的数据点，根据已计算出的变量向主面板绘制正态分布图；根据步骤三得到的数据点向主面板绘制线性回归线，为统计分析提供参考该方法通过完成大量的数据统计工作，从而使评价人员最终理顺数据间的分布状态、数据的特征和变化规律、数据间的关系。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用 正态分布 方法 统计分析 | ||
【主权项】：
一种应用正态分布方法的统计分析方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一:接收样本，从模块宿主处接收样本S，同时备份原样本S1；步骤二:判断S的数量是否符合正态分布，当数据合法，获取样本的最大精度P(A2)，根据P和S的平均值计算获取均值X，X=Round(Simple.Avg,P)，根据X轴刻度,计算获取Σ.(A3)，计算得出均值上限Usl=X+3*∑，均值下限Lsl=X–3*∑；如果数据不合法，结束操作,向样本中填充足够数量的无意义数据使样本数量符合正态分布A1；步骤三:根据正态分布公式,生成正态分布图形所需要的数据点，根据已计算出的变量向主面板绘制正态分布图；步骤四:根据步骤三得到的数据点向主面板绘制线性回归线，为统计分析提供参考。
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