[发明专利]一种基于小波分析的干涉图数据光谱复原方法有效

专利信息
申请号: 201310565759.X 申请日: 2013-11-14
公开(公告)号: CN103578086A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 袁艳;丁晓铭;苏丽娟;黄锋振 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G01J3/45
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 周长琪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明一种基于小波分析的干涉图数据光谱复原方法,将基于小波分析的拟合插值法,运用于非均匀采样干涉图重构,并进行光谱反演。先运用基于小波分析的拟合法对非均匀采样干涉数据进行拟合,得到拟合的干涉数据曲线,之后再进行均匀插值采样,得到均匀采样的干涉数据。对均匀采样的干涉数据,根据干涉光谱学理论,进行快速傅里叶变换(FFT),得到复原的光谱图。根据仿真实验结果,可以看到,该方法较好的适应了干涉数据在零光程差处变化剧烈,在光程差较大处变化缓慢的特点,较好的拟合出了干涉数据曲线。在均匀采样后,进行FFT得到光谱反演图。本发明的优点为:能够更精细的拟合出干涉图数据,更好的体现干涉图数据的特点,拟合误差更低。
搜索关键词: 一种 基于 分析 干涉 数据 光谱 复原 方法
【主权项】:
1.一种基于小波分析的干涉图数据光谱复原方法,其特征在于:通过下述步骤实现:步骤1:从干涉型光谱仪拍摄得到的数据中提取相同目标点灰度值,得到非均匀采样的干涉图数据;步骤2:基于小波分析,拟合非均匀采样的干涉图数据;将非均匀采样的干涉图数据带入基于小波分析的拟合公式,得到干涉图数据的拟合函数,具体为:令非均匀采样的干涉图数据集合为:fs=[f(t0)f(t1)f(t2)...f(ti)...f(tP-1)]T      (1)其中,P为集合fs中非均匀采样点的个数;t0、t1、t2、…、ti、…、tP-1为P个非均匀采样点;将P个非均匀采样点带入基于小波分析的拟合公式,得到P元线性方程组:f(ti)=ΣncJ,nΦ(ti2J-n)+Σj=1JΣndj,nΨ(ti2j-n),i=0,...,P-1---(2)]]>式(2)中,n为位移量;J为分辨率层级数量,J=1、2、3、…;Φ(ti)为尺度函数;ψ(ti)为小波基函数;cJ为第J个分辨率层级对应的尺度函数系数;dj为总数为J个分辨率层级中每个分辨率层级对应的小波基函数系数;n的取值范围通过下述方式确定:令Φ(ti)的紧支集为[0,N],N为自然数,则有:0ti2J-nN---(3)]]>进而得到:-N+minti/2J≤n≤maxti/2J      (4)式(4)中,minti为ti中的最小值;maxti为ti中的最大值;令ψ(ti)的紧支集为[0,N],N为自然数,则有:0ti2j-nN---(5)]]>进而得到:-N+minti/2j≤n≤maxti/2j     (6)上述过程中,式(2)中的cJ与dj通过下述方法获得:将不同的分辨率层级数J=1、2、3、…分别带入拟合公式,求得拟合结果;随后计算得到拟合结果的误差平方根,同时将拟合结果反演到光谱域,再在光谱域对光谱图进行误差平方根计算,得到反演光谱图误差平方根;分别比较J=1、2、3、…时拟合结果的误差平方根大小,以及反演光谱图误差平方根大小,得到最佳分辨率层级数J;将式(2)通过矩阵表示为:fs=GJscJ+Σj=1JHjsdj---(7)]]>其中,为尺度函数采样点在分辨率层级J上的位移矩阵,与每个采样点ti有关;为小波基函数采样点在J个分辨率层级中各个分辨率层级上的位移矩阵;在忽略信号fs细节信息的情况下,将fs近似的表示为:fsGJscJs---(8)]]>通过最小二乘法,得到系数cJ的近似解,记为f0^=GJcJ^---(9)]]>其中,为fs的近似拟合结果;矩阵GJ是尺度函数在层级J上的位移矩阵,位移量为整数序列[0,…,M-1],M为干涉图数据的均匀采样值个数;当J=1时,通过式(7)、(9)可得到误差信号e0为:e0=fs-f0^|t=tk,k=0...p-1=fs-GJscJ^HJsdJ---(10)]]>其中,e0包含信号fs的高频成分;通过式(10)得到系数dJ的近似解f1^=GJcJ^+HJdJ^---(11)]]>为fs在J=1时的近似拟合结果;其中,HJ是小波函数在层级J上的位移矩阵,位移量为整数序列[0,…,M-1];当J=2时,在根据上述过程求得之后;再根据式(7)、(11)可得到第J-1个分辨率层级对应的小波基函数系数dJ-1的近似解;具体求解过程为,先求得误差信号e1为:e1=fs-f1^=fs-GJscJ^-HJsdJ^HJ-1sdJ-1---(12)]]>通过式(11)得到第J-1个分辨率层级对应的尺度函数系数dJ-1的近似解f2^=GJcJ^+HJdJ^+HJ-1d^J-1---(13)]]>为fs在J=2时的近似拟合结果;其中,HJ-1是小波基函数在层级J-1上的位移矩阵,位移量为整数序列[0,…,M-1];当J=3时,根据上述过程求得后;再根据式(7)、(13)可得到第J-2个分辨率层级对应的小波基函数系数dJ-2的近似解;具体求解过程为,先求得误差信号e2为:e2=fs-f2^=fs-GJscJ^-HJsd^J-HJ-1sd^J-1HJ-2sdJ-2---(14)]]>由此,通过式(13)得到第J-2个分辨率层级对应的尺度函数系数dJ-2的近似解f3^=GJcJ^+HJdJ^+HJ-1d^J-1+HJ-2d^J-2---(15)]]>为fs在J=3时的近似拟合结果;其中,HJ-2是小波基函数在层级J-2上的位移矩阵,位移量为整数序列[0,…,M-1];以此类推,得到各数量分辨率层级J对应的尺度函数系数近似解,以及各数量分辨率层级J下各分辨率层级对应的小波基函数系数近似解,并带入式(2)中,得到各个数量层级对应的干涉数据fs的近似拟合的结果f(t)为:fsf(t)=Σnc^J,nΦ(t2J-n)+Σj=1JΣnd^j,nΨ(t2j-n)---(16)]]>步骤3:对步骤2中得到的干涉数据拟合结果进行均匀采样插值,得到均匀采样的干涉数据;将均匀采样点[0,1,…,M-1]带入步骤2中得到的干涉数据f(t)的近似拟合结果中,得到M个均匀采样的干涉数据:f=[f(0)f(1)f(2)...f(M-1)]T                (17)步骤4:对均匀采样的干涉数据进行快速傅里叶变换(FFT)得到复原的光谱数据;根据干涉光谱学理论,将步骤3中得到的M个均匀采样的干涉数据,进行FFT,得到复原的光谱图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310565759.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top