[发明专利]一种元器件生产过程控制方法无效
| 申请号： | 201310568322.1 | 申请日： | 2013-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103645682A | 公开（公告）日： | 2014-03-19 |
| 发明（设计）人： | 王建国;夏泓;朱恒静;张红旗;唐民;张延伟;李海燕;蒲瑞民 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 李江 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种元器件生产过程控制方法，用于元器件生产厂全过程识别及控制，形成过程识别文件的方法。该方法基于生产厂PID建设、PID试运行、用户方PID审查、PID固化、PID维护及PID变更要求的总体流程，将元器件生产过程控制分为启动阶段、初步建设阶段、验收阶段及闭环阶段的具体控制阶段。该方法有效解决了元器件生产过程不受控的问题、标准缺乏和管理要求缺乏的问题，提高技术状态稳定性、质量可靠性和产品一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 生产过程 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种元器件生产过程控制方法，包括元器件生产厂PID建设、PID试运行、用户方PID审查、PID固化、PID维护及PID 变更要求的流程，具体将上述流程分为启动阶段、初步建设阶段、验收阶段和闭环阶段等四个阶段；其中：启动阶段包括PID学习和培训，对PID建设内容、建设方法及注意事项的建设要素进行整体策划；初步建设阶段包括流程梳理、编制PID文件、文件评审和PID初稿文件批准，并伴随驻厂的技术支持；验收阶段包括进行文件修理和初步审查、进行现场审查及评估；闭环阶段包括根据反馈意见，采取相应纠正措施，并现场确认整改结果，形成闭环检查报告。
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