[发明专利]线迹检查方法在审
| 申请号： | 201310571756.7 | 申请日： | 2013-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN104636527A | 公开（公告）日： | 2015-05-20 |
| 发明（设计）人： | 郑永健;蔡秋凤;谢忆欣;张有权 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;常大军 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种线迹检查方法，适于一印刷电路板，此印刷电路板具有多条耦接电子元件的线迹。此方法包括下列步骤。取得待确认线迹，待确认线迹为线迹其中之一。以电子元件为一起点，沿待确认线迹至预设长度，以取得结束点，预设长度包括规范长度以及延伸长度。由结束点向电子元件检查待确认线迹，判断待确认线迹的宽度是否变小。若判断出待确认线迹的宽度变小，产生检查点。计算检查点与起点之间的长度，以取得检查长度。判断检查长度是否大于规范长度。若判断检查长度大于规范长度，标示待确认线迹。记录待确认线迹。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种线迹检查方法，适于一印刷电路板，该印刷电路板具有多条线迹，该些线迹耦接一电子元件，其特征在于，该线迹检查方法包括：取得一待确认线迹，其中该待确认线迹为该些线迹其中之一；以该电子元件为一起点，沿该待确认线迹至一预设长度，以取得一结束点，其中该预设长度包括一规范长度以及一延伸长度；由该结束点向该电子元件检查该待确认线迹，判断该待确认线迹的宽度是否变小；若判断出该待确认线迹的宽度变小，产生一检查点，该检查点对应该待确认线迹的宽度变小的位置；计算该检查点与该起点之间的长度，以取得一检查长度；判断该检查长度是否大于该规范长度；若判断该检查长度大于该规范长度，标示该待确认线迹；以及记录该待确认线迹。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达科技有限公司;英业达股份有限公司，未经英业达科技有限公司;英业达股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310571756.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
