[发明专利]实现计量芯片校表的方法与装置在审
| 申请号： | 201310573524.5 | 申请日： | 2013-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN103675750A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 谷庆周;侯庆全;聂青山;刘强 | 申请（专利权）人： | 深圳市航天泰瑞捷电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/04 | 分类号： | G01R35/04 |
| 代理公司： | 深圳市弘拓知识产权代理事务所(普通合伙) 44320 | 代理人： | 李新梅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于电力技术领域，提供了一种实现计量芯片校表的方法，包括以下步骤：电表放置于工装设备；所述工装设备进行升源操作；计算所述电表的当前功率因数；计算所述电表的当前感性误差值；补偿不合格的感性误差；计算所述电表的当前阻性误差值；补偿不合格的阻性误差。本发明还提供了一种实现计量芯片校表的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 计量 芯片 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种实现计量芯片校表的方法，其特征在于，包括以下步骤：电表放置于工装设备；所述工装设备进行升源操作；计算所述电表的当前功率因数；计算所述电表的当前感性误差值；补偿不合格的感性误差；计算所述电表的当前阻性误差值；补偿不合格的阻性误差。
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