[发明专利]触发式传感器轴向触发行程的检定方法及检定辅具有效
| 申请号： | 201310574853.1 | 申请日： | 2013-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103659466A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 高峰;赵柏涵;李艳 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | B23Q17/00 | 分类号： | B23Q17/00 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 李娜 |
| 地址： | 710048*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 触发式传感器轴向触发行程的检定方法及检定辅具，使用装有圆锥的检定辅具，触测圆锥的任意被测截圆上沿圆周均匀分布的若干个点，用最小二乘拟合圆法处理各测点坐标值，得截圆的直径；然后测量被测截圆与顶圆（或底圆）之间的轴向距离；结合触发式传感器测头探针半径对测量的影响，算出触发式传感器轴向触发行程。本发明以检定结果为依据修正测量结果，可有效提高沿传感器轴向触测时的测量精度，本发明检定辅具可采用市售标准量具作为检定体，结合本发明提供检定辅具，无需其他装备，使用成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 触发 传感器 轴向 行程 检定 方法 | ||
【主权项】：
触发式传感器轴向触发行程的检定方法，其特征在于，使用装有圆锥的检定辅具，触测圆锥的任意被测截圆上沿圆周均匀分布的若干个点，用最小二乘拟合圆法处理各测点坐标值，得截圆的直径；然后测量被测截圆与顶圆或底圆之间的轴向距离；结合触发式传感器测头探针半径对测量的影响，算出触发式传感器轴向触发行程。
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