[发明专利]调试筒装置校准扫描装置的方法及调试筒装置和系统有效
| 申请号： | 201310578808.3 | 申请日： | 2013-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN103674840A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 吴蕾;蔡守东;王辉;何卫红 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯尔顿科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518112 广东省深圳市龙岗区布吉街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于光电学领域，公布了一种利用调试筒装置校准扫描装置的方法，包括对X方向扫描部件校准和/或对Y方向扫描组件校准。对X方向扫描件：X方向扫描件扫描凸起条，OCT成像系统采集凸起条的断面的OCT断层扫描图，并以校准的转动中心位置X1为基准，使X方向扫描件的实际扫描区域中心线与光路主光轴重合；对Y方向扫描组件，包括：第二Y方向扫描件配合第一Y方向扫描件扫描凸起条，OCT成像系统采集凸起条的断面并形成OCT断层扫描组图；确定第二Y方向扫描件的精确扫描中心位置Y22；接着确定第一Y方向扫描件的精确扫描中心位置Y11，使Y方向扫描区域中心线与所述光路的主光轴重合。本方法使扫描装置校准过程简单、快捷，调试精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 装置 校准 扫描 方法 系统 | ||
【主权项】：
调试筒装置校准扫描装置的方法，其特征在于，包括对所述扫描装置的X方向扫描件校准和/或对Y方向扫描组件校准；所述对X方向扫描件校准包括:所述X方向扫描件扫描调试筒装置内的凸起条，OCT成像系统采集所述凸起条的第一OCT断层扫描图，计算机判定所述第一OCT断层扫描图中所述凸起条的一条棱边线所在的第一列像素L0对应的所述X方向扫描件的转动中心位置X1;计算机将所述X方向扫描件的转动中心位置X1设为其转动中心参数；所述X方向扫描件以所述转动中心位置X1扫描转动，使其实际扫描区域中心线与光路的主光轴重合；所述对Y方向扫描组件校准，包括：定义所述Y方向扫描组件包括第一Y方向扫描件和/或第二Y方向扫描件；若所述Y方向扫描组件包括第一Y方向扫描件和第二Y方向扫描件，则：所述第二Y方向扫描件对所述凸起条扫描，确定其精确扫描中心位置Y22，使所述第二Y方向扫描件的实际扫描区域中心线与光路的主光轴重合;所述第一Y方向扫描件以初始扫描转动中心Y10对所述凸起条扫描，确定其精确扫描中心位置Y11，并以所述精确扫描中心位置Y11扫描转动，使所述第一Y方向扫描件的实际扫描区域中心线与光路的主光轴重合；若所述Y方向扫描组件只包括第一Y方向扫描件或只包括第二Y方向扫描件，则：所述对第一Y方向扫描件或第二Y方向扫描件校准方法和对所述X方向扫描件校准方法相同。
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