[发明专利]石英晶体微天平检测装置

摘要

本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置，包括中间层、密封垫片、封盖和石英晶片；中间层中心设有中间层凹槽，中间层凹槽底端设有左探头通孔和右探头通口；封盖上设有进样口和出样口；石英晶片位于中间层凹槽内，且在石英晶片底端中心设有一个开口向下的石英晶片凹槽；石英晶片凹槽底端分别设有左电极和右电极；密封垫片位于封盖和中间层之间；左电极由左弹簧针探头穿过左探头通孔引出，右电极由右弹簧针探头穿过右探头通孔引出。本发明流通池结构，具有方便装卸、可重复利用、结构简单以及性能稳定等优点，实现了对石英晶体微天平的高频小型化，提高了其质量-频率灵敏度，可以完成对小分子或痕量物质的检测，且所需待检测物的最小样品量小。

主权项

石英晶体微天平检测装置，其特征在于，包括中间层（2）、密封垫片（3）、封盖（4）和石英晶片（5）；所述中间层（2）中心设有中间层凹槽（6），所述中间层凹槽（6）底端设有左探头通孔（9）和右探头通口（10）；所述封盖（4）上设有进样口（7）和出样口（8）；所述密封垫片（3）上设有中心通孔（13），该中心通孔（13）与所述封盖上的进样口（7）和出样口（8）相连通；所述石英晶片（5）位于所述中间层凹槽（6）内，且在石英晶片（5）底端中心设有一个开口向下的石英晶片凹槽；所述石英晶片凹槽底端分别设有左电极（16）和右电极（17）；所述密封垫片（3）位于所述封盖（4）和中间层（2）之间，所述封盖（4）和中间层（2）可拆分连接，且石英晶片的上表面也与硅胶垫片（3）相连；所述左电极（16）由左弹簧针探头（14）穿过左探头通孔（9）引出，右电极（17）由右弹簧针探头（15）穿过右探头通孔（10）引出；所述中心通孔（13）位于所述石英晶片（5）上表面内且中心通孔的面积大于石英晶片凹槽的面积。