[发明专利]动态库性能分析方法和动态库性能分析系统有效
| 申请号： | 201310581221.8 | 申请日： | 2013-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN103838662B | 公开（公告）日： | 2018-04-24 |
| 发明（设计）人： | 李敏周;伯恩哈德·艾格;李在镇;金永洛;金鸿圭;金洪准 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社;首尔大学校产学协力团 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人： | 张川绪,张云珠 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统，包括将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数，其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 性能 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种动态库性能分析方法，包括：将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数；其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。
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