[发明专利]一种光斑大小的测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201310585762.8 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN103615982A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 赵彦立;王琦;文柯 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08;G01B11/00;G01J1/42
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于光电测量技术领域,公开了一种光斑大小的测量装置和方法,利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律,配合光敏材料形成光斑大小测量装置;所述光斑大小的测量装置包括:双螺旋电极;所述双螺旋包括:呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极;所述双螺旋电极采用光敏电导材料;所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设,呈中心对称;所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。本发明通过两个光敏材料构成的螺旋电极在待测光斑的照射下阻值变化,来表征待测光斑的大小,操作简单高效。
搜索关键词: 一种 光斑 大小 测量 装置 方法
【主权项】:
一种光斑大小的测量装置,利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律,配合光敏材料形成光斑大小测量装置;其特征在于,所述光斑大小的测量装置包括:双螺旋电极;所述双螺旋包括:呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极;所述双螺旋电极采用光敏电导材料;所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设,呈中心对称;所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。
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